メーリングリスト

[ml] マイクロビームアナリシス技術部会第20回研究会のご案内

対象：会員および一般

速報発信者；二宮啓（山梨大学）

日本表面真空学会会員の皆様

マイクロビームアナリシス技術部会第20回研究会のご案内

MBA技術部会では、1月23日(木)午後に第20回研究会を開催いたします。
奮ってご参加いただきますようお願いいたします。

日　時　： 2025年1月23日（木）13時～
開催場所：エッサム神田ホール2号館6階中会議室2-601（東京都千代田区内神田3-24-5）
開催形式：対面およびzoomオンラインのハイブリッド方式

プログラム（招待講演）
(1)13:00-13:45 TESCAN・Dirk van der Wal先生
「Implementation of Booster Technology on High Resolution Field Emission SEM」
(2)13:45-14:30 ファインセラミックスセンター・吉田要先生
「電子顕微鏡による液中構造・反応のその場観察技術」
14:30-14:50 休憩
(3)14:50-15:35 九州大学・波多聡先生
「電子顕微鏡によるその場観察と三次元観察の融合」
(4)15:35-16:20 東北大学・陣内浩司先生
「電子顕微鏡によるソフトマテリアルの静的・動的ナノ構造観察」

参加申込：日本表面真空学会の「申し込み受付中のイベント」Webページよりお申込みください。
参加申込締切： 1月16日（木）

問い合わせ先：
山﨑順（大阪大学）E-mail: yamasaki@uhvem.osaka-u.ac.jp
二宮啓（山梨大学）E-mail: sninomiya@yamanashi.ac.jp

＜本メールは日本表面真空学会より会員の皆様宛に配信しております。＞