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[ml] 【締切延長】実用顕微評価技術セミナー2024のご案内

対象：会員および一般

速報発信者；宮内良広（防衛大学校）

＊締切を延長しましたので再度ご案内申し上げます。

日本表面真空学会会員の皆様
（重複してお受け取りの際はご容赦ください）

実用顕微評価技術セミナー2024の参加締め切りを7月22日(月)12時に延長いたします。
ご関心をお持ちの皆様には，ぜひこの機会にご参加賜りますようご案内申し上げます。

----- 実用顕微評価技術セミナー2024 -----
形式：対面形式
日時：2024年7月24日(水)
　　　13:00～17:30
場所：東京大学小柴ホール
主催：日本表面真空学会関東支部
共催：日本表面真空学会産学連携委員会、教育委員会他（予定）
聴講者参加費：無料
参加申込締切[延長]：2024年7月22日(月)12時
下記、ホームページから参加登録をお願いします。
https://www.jvss.jp/chapter/kanto/files/2024_kenbi/index.html

概要：
本セミナーは、ナノ材料・デバイスの評価技術として重要な新しい顕微評価技術の展開と促進を図り、これを通じて産業界に貢献することを目的と
して、013年より開催されてきました。機器メーカーと分析会社のご協力により、口頭発表やポスター展示を併設して、各種材料・デバイスの顕微
評価・解析の向上に役立つ最新技術やノウハウを紹介してきました。
COVID-19の流行以降はオンライン開催も進め、毎回100名を超える参加者を集めています。本年は、企業の方や研究者が面着することにより、活発
な議論や意見交換が期待されるため、コロナ禍前に行われていた対面形式に戻しました。

招待講演：
伊藤　恵利先生（東北大学/メニコンみる未来のための共創研究所）
「量子ビームマルチプローブを活用した社会課題解決へのアプローチ ‘カラコン‘を視る」
松田　巌先生（東京大学物性研究所、東北大学国際放射光イノベーション・スマート研究センター）
「微小空間を探る先端X線分光」

企業プレゼンテーション：
ブルカージャパン株式会社「Peak Force Tappingを用いたBruker高性能AFMのご紹介」
株式会社NanoAndMore ジャパン「最適なSPM/AFM カンチレバーの選定」
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社「Veroが変えるAFM物性測定」
株式会社ユニソク「低温STMの利用の今と利用拡大のとりくみ」
株式会社トヤマ　「ナノ領域におけるARPES装置の試み」
日本電子株式会社「XRF最新技術、ヘリウムフリーで液体中の軽元素測定を可能にする"低真空液体試料カプセル"のご提案」
IONTOFジャパン株式会社「TOF-SIMSによる表面近傍の世界：深さ方向分析を含むイメージの分析事例」

お問い合わせ:
宮内良広（防衛大学校）Email: miyauchi -at- nda.ac.jp

＜本メールは日本表面真空学会より会員の皆様宛に配信しております。＞