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[ml] マイクロビームアナリシス技術部会第13回研究会のご案内

対象：会員および一般

速報発信者；白木将（日本工業大学）

日本表面真空学会会員の皆様

マイクロビームアナリシス技術部会第13回研究会のご案内

MBA技術部会では、6月23日(金)午後に第13回研究会を開催致します。
奮ってご参加ください。

日　時　： 2023年6月23日（金）13時30分～17時20分
開催場所：エッサム神田1号館5階イベントホール2（東京都千代田区神田鍛冶町3-2-2）
開催形式：対面およびzoomオンラインのハイブリッド方式

研究会プログラム
（1）早稲田大学　杉村夏彦先生
　「質量分析におけるイオン化法試料適応性と付加イオン選択性」
（2）産業技術総合研究所　浅川大樹先生
　「気相イオンの内部エネルギー分布測定のための温度計イオンの開発」
（3）京都大学　瀬木利夫先生
　「大気圧MeV-SIMSによる固液界面分析技術の開発」
（4）横浜国立大学　藤井麻樹子先生
　「環境規制対応のための新規スクリーニング分析手法の開発」
（5）株式会社アプコ　小粥啓子先生
　「リターディングを用いたモノクロメータ搭載電子銃の応用」
（6）株式会社応用科学研究所　副島啓義先生
　「（通常の分析室・実験室レベルで）、様々なＸ線マイクロビームを同一光軸で実現」

参加申込：日本表面真空学会の「申し込み受付中のイベント」Webページよりお申込みください。
参加申込締切：6月19日（月）

研究会プログラム等の詳細は、以下のMBAのホームページをご覧ください。
https://www.jvss.jp/division/mba/symposium.php

問合せ先：白木将（日本工業大学）　E-mail: shiraki.susumu＠nit.ac.jp