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[ml_560] 「第74回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～」のご案内
対象：会員および一般
速報発信者；横田泰之（教育・育成委員会 副委員長）
(公社)日本表面真空学会主催
「第74回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～」のご案内
表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。
本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説する
ことを目的としています。また、各講演では最近のホットトピックスも盛り込み、興味と理解を深めて頂けるようになっております。
表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。
詳細につきましては、下記Webページをご参照下さい。
https://www.jvss.jp/jpn/activities/04/detail.php?eid=00014
開催期間：2022年11月1日（火）～30日（水）
開催方法：オンライン開催（Google Classroomを使用します)
申込締切：2022年10月21日（金）
申込方法：上記Webサイトからお申込み下さい。
プログラム：
表面・界面分析概論 野副尚一（元 産総研）
真空技術基礎 谷本育律（高エネ研）
表面の特性基礎 本間芳和（東京理科大）
Ｘ線光電子分光法（XPS） 中村 誠（富士通）
オージェ電子分光法（AES） 中村 誠（富士通）
放射光表面構造解析 近藤 寛（慶応大）
SPMの基礎と応用 中嶋 健（東工大）
透過型電子顕微鏡による材料解析 柴田直哉（東京大）
走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）
林 広司（島津製作所）
薄膜X線測定法（XRD/XRR） 稲葉克彦（リガク）
表面における赤外分光法、ラマン分光法 石橋孝章（筑波大）
界面分析としての電気化学測定基礎 野口秀典（物材機構）
イオン散乱 中嶋 薫（京都大）
二次イオン質量分析法（スタティックSIMS） 中西加奈（東レリサーチセンター）
二次イオン質量分析法（ダイナミックSIMS） 沼尾茂悟（東レリサーチセンター）
測定データーの取扱いの基礎 太田英二（慶應大名誉教授）
問合せ先：日本表面真空学会 事務局
E-mail: office@jvss.jp TEL: 03-3812-0266
日本表面真空学会 事務局
〒113-0033 東京都文京区本郷5-25-16 石川ビル5階 TEL：03-3812-0266 FAX：03-3812-2897 Email：