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[ml] 第78回表面科学基礎講座「表面・界面分析の基礎と応用」（オンライン）

対象：会員および一般

速報発信者；横田泰之（教育・育成委員会委員長）

日本表面真空学会会員各位

　表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。
本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、各講演では最近のホットトピックスも盛り込み、興味と理解を深めていただけるようになっております。
表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。

第78回表面科学基礎講座「表面・界面分析の基礎と応用」（2024年度オンライン）
主　　催：公益社団法人日本表面真空学会
開催期間：2024年11月1日（金）～ 30日（土）
申込締切：2024年10月21日（月）
実施方法：Google Classroomを使用したオンライン視聴
※申し込みにあたり、Google accountが必要です（参加専用のアカウントのご準備を推奨しています）。
　参加方法の詳細は、お申し込みいただいた方にお知らせします。

プログラム：
　表面・界面分析概論　　　　　　　　野副尚一（元産総研）
　真空技術基礎　　　　　　　　　　　谷本育律（高エネ研）
　表面の特性基礎　　　　　　　　　　本間芳和（東京理科大）
　Ｘ線光電子分光法（XPS）　　　　　中村　誠（富士通(株)）
　オージェ電子分光法（AES）　　　　中村　誠（富士通(株)）
　放射光表面構造解析　　　　　　　　近藤　寛（慶応大）
　SPMの基礎と応用　　　　　　　　　中嶋　健（東工大）
　透過型電子顕微鏡による材料解析　　柴田直哉（東京大）
　走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）林広司（(株)島津製作所）
　薄膜X線測定法（XRD/XRR）　　　　　　　　小林信太郎（(株)リガク）
　表面における赤外分光法、ラマン分光法　　　石橋孝章（筑波大）
　界面分析としての電気化学測定基礎　　　　　野口秀典（物材機構）
　イオン散乱　　　　　　　　　　　　　　　　中嶋　薫（京都大）
　二次イオン質量分析法（スタティックSIMS）　中西加奈（(株)東レリサーチセンター）
　二次イオン質量分析法（ダイナミックSIMS）　沼尾茂悟（(株)東レリサーチセンター）
　測定データーの取扱いの基礎　　　　　　　　太田英二（慶應大名誉教授）

参加定員：先着100名程度（定員に達し次第締め切ります）

参加費・申込方法等の詳細は日本表面真空学会ウェブサイトをご覧ください。
https://www.jvss.jp/jpn/activities/04/detail.php?eid=00020

＜本メールは日本表面真空学会より会員の皆様宛に配信しております。＞