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[ml] 日常的な分析業務におけるJIS並びにISO規格の利用－表面分析実用化セミナー '23－のご案内

対象：会員および一般

速報発信者；荒木祥和（表面分析研究会ISOセミナー担当）

「日常的な分析業務におけるJIS並びにISO規格の利用 -表面分析実用化セミナー'23-」
（ISOセミナー23）のご案内

-----<概要>-----
主催：表面分析研究会
協賛：日本表面真空学会ほか
日時： 2023年12月5日(火)，6日(水) 10:00～17:00
開催方法：会場とオンラインのハイブリッド開催
会場： Shimazu Tokyo Innovation Plaza（株式会社島津製作所殿町事業所）
参加登録申込期限： 2023年11月22日(水)
参加費：
　表面分析研究会会員　25,000円（どちらか1日のみ参加される場合は, 15,000円）
　協賛学協会会員　30,000円（どちらか1日のみ参加される場合は, 20,000円）
　学生　15,000円（どちらか1日のみ参加される場合は, 10,000円）
　その他　35,000円（どちらか1日のみ参加される場合は, 25,000円）

参加登録や開催案内，プログラム等の詳細につきましては，表面分析研究会ホームページをご覧ください．
　http://www.sasj.jp/seminar/iso-seminar23/index.html

-----<プログラム>-----
12月5日(火) 10:00～17:00
１．各手法共通－分析試料の前処理と取り付けに関する指針（JIS K 0154:2017, ISO 18116:2005）
　　各手法共通－分析前の試料の取り扱い（ISO 18117:2009）
　　山内康生（矢崎総業株式会社）
２．AES & XPS－空間分解能の決定（ISO 18516:2019）
　　AES & XPS－空間分解能，分析領域及び分析器から見える試料表面領域の決定（ISO/TR 19319:2013）
　　齋藤健　（サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社）
３．XPS－薄膜分析の結果報告（ISO 13424:2013）
　　松村純宏（ウエスタンデジタルテクノロジーズ合同株式）
４．AES & XPS－均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針
　　（JIS K 0167:2011，ISO 18118:2015）
　　永富隆清（旭化成株式会社）

12月6日(水) 10:00～17:00
５．SIMS－S-SIMS における相対強度軸目盛の繰り返し性と恒常性（JIS K 0156:2018，ISO 23830:2008）
　　SIMS－単一イオン計数飛行時間型分析器の強度スケールの線形性（JIS K 0155:2018，ISO 17862:2013）
　　飯田真一（アルバック・ファイ株式会社）
６．SIMS－ToF-SIMSにおける質量軸校正（JIS K 0157:2021，ISO 13084:2018）
　　伊藤博人（コニカミノルタ株式会社）
７．XPS－帯電制御と帯電補正に用いた手法の報告方法（ISO 19318:2021）
　　高野みどり（パナソニックインダストリー株式会社）
８．AES－帯電制御と帯電補正に用いた手法の報告方法（ISO 29081:2010）
　　荒木祥和（株式会社日産アーク）
９．帯電制御のための試料取り付け実習

-----<問い合わせ先>-----
表面分析研究会　ISOセミナー担当　荒木祥和　mailto:araki@nissan-arc.co.jp