公益社団法人 日本表面真空学会



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[ml_587] 日常的な分析業務におけるJIS並びにISO規格の利用-表面分析実用化セミナー '22-のご案内

対象:会員および一般

速報発信者;荒木祥和(表面分析研究会 ISOセミナー担当)


日本表面真空学会会員の皆様

表面分析研究会では、本年12月に2018年以来4年ぶりに、「日常的な分析業務におけるJIS並びにISO規格の利用 ー表面分析実用化セミナー '22」
通称ISOセミナーを開催いたします。このセミナーは、JISやISO規格を解説するだけでなく、
実習を通して規格にに記載された手順を学べる「聞けば使えるセミナー」となっております。
実際に表面分析い携わっておられる方々に参加していただき、日常の分析業務に役立てていただきたく、
多くのみなさまからのご参加をお待ちしております。

参加登録は、開催案内ページ(以下)からお願い致します。
http://www.sasj.jp/seminar/iso-seminar22/index.html

-----ISOセミナー'22概要-----
日程:2022年12月6日(火),7日(水) 10時00分 ~ 17時00分
開催方法:オンラインと会場のハイブリッド開催
会場:Shimazu Tokyo Innovation Plaza(株式会社島津製作所 殿町事業所)
    https://www.king-skyfront.jp/access/
参加登録申込期限:2022年11月 23日(水)
参加費:SASJ会員 25,000円(どちらか1日のみ参加される場合は, 15,000円)
    学生 15,000円(どちらか1日のみ参加される場合は, 10,000円)
    協賛学協会会員 30,000円(どちらか1日のみ参加される場合は, 20,000円)
    その他 35,000円(どちらか1日のみ参加される場合は, 25,000円)
--------(プログラム)--------
12月6日(火)
10:00-11:20
1.各手法共通-分析試料の前処理と取り付けに関する指針(JIS K 0154:2017, ISO 18116:2005)
  各手法共通-分析前の試料の取り扱い(ISO 18117:2009)-正しい結果を得るための試料の取り扱い-
      山内 康生(矢崎総業株式会社)
11:20-12:40
2.AES & XPS-空間分解能の決定(ISO 18516:2019)
  AES & XPS-空間分解能,分析領域及び分析器から見える試料表面領域の決定(ISO/TR 19319:2013)
  -空間分解能と分析領域を知るために-
      齋藤 健(サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社)
12:40-13:40 昼食
13:40-14:40
3.XPS-帯電制御と帯電補正に用いた手法の報告方法(ISO 19318:2021)-絶縁物の正しいXPS分析-
      高野 みどり(パナソニック インダストリー株式会社)
14:40-14:50 休憩
14:50-15:50
4.AES-帯電制御と帯電補正に用いた手法の報告方法(ISO 29081:2010)-絶縁物の正しいAES分析-
      荒木 祥和(株式会社日産アーク)
15:50-16:30 帯電制御のための試料取り付け実習
16:30-17:00 全体討論

12月7日(水)
10:00-11:20
5.XPS-薄膜分析の結果報告(ISO 13424:2013)-正しい薄膜分析-
      松村 純宏(ウエスタンデジタルテクノロジーズ合同株式)
11:20-12:40
6.AES & XPS-均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針
(JIS K 0167:2011,ISO18118:2015)-均質物質の正しい定量分析-
      永富 隆清(旭化成株式会社)
12:40-13:40 昼食
13:40-15:00
7.SIMS-S-SIMS における相対強度軸目盛の繰り返し性と恒常性(ISO 23830:2008)
  SIMS-単一イオン計数飛行時間型分析器の強度スケールの線形性(ISO17862:2013)
  -正しい2次イオン強度計測のために-
      飯田 真一(アルバック・ファイ株式会社)
15:00-15:10 休憩
15:10-16:30
8.SIMS-ToF-SIMSにおける質量軸校正(ISO 13084:2018)-正しい二次イオン質量を得るために-
      伊藤 博人(コニカミノルタ株式会社)
16:30-17:00 全体討議-------------------

このセミナーに関するご質問は、このメールへのご返信ではなく下記担当へお願い致します。
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表面分析研究会 ISOセミナー担当 荒木祥和
araki@nissan-arc.co.jp



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