第77回表面科学基礎講座「表面・界面分析の基礎と応用」（2024年度オンライン）

協力企業

主催

日本表面真空学会

開催日

2024年6月1日（土）～6月30日（日）

締切日

2024年05月20日

会場

Google Classroomを使用します。申し込みにあたり、Gmail account（無料）が必要です。参加専用のアカウントのご準備を推奨しています。
参加方法の詳細は、お申し込みいただいた方にお知らせします。

プログラム

　表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、各講演では最近のホットトピックスも盛り込み、興味と理解を深めていただけるようになっております。表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお勧めいたします。

講義内容　閲覧可能期間2024年6月1日～6月30日。Google Classroomを使用します。

時間	講義題目	講師
80分	表面・界面分析概論	野副尚一 (元　産総研)
80分	真空技術基礎	谷本育律 (高エネ研)
80分	表面の特性基礎	本間芳和 (東京理科大)
60分	Ｘ線光電子分光法（XPS）	中村　誠 (富士通(株))
60分	オージェ電子分光法（AES）	中村　誠 (富士通(株))
70分	放射光表面構造解析	近藤　寛 (慶応大)
100分	SPMの基礎と応用	中嶋　健 (東工大)
90分	透過型電子顕微鏡による材料解析	柴田直哉 (東京大)
90分	走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）	林　広司 ((株)島津製作所)
60分	薄膜X線測定法（XRD/XRR）	小林信太郎 ((株)リガク)
90分	表面における赤外分光法、ラマン分光法	石橋孝章 (筑波大)
70分	界面分析としての電気化学測定基礎	野口秀典 (物材機構)
50分	イオン散乱	中嶋　薫 (京都大)
70分	二次イオン質量分析法（スタティックSIMS）	中西加奈 ((株)東レリサーチセンター)
40分	二次イオン質量分析法（ダイナミックSIMS）	沼尾茂悟 ((株)東レリサーチセンター)
60分	測定データーの取扱いの基礎	太田英二 (慶應大名誉教授)

・講義題目・講義時間は、予告なく変更となることがあります。
・テキストおよびビデオは開催期間中Web上でのみ閲覧可能です。録画はご遠慮ください。
・講師とのライブディスカッションはございません。質疑応答は、コメントとして出していただき、講師の方より期間中に解答いただきます。
・お申し込みにあたりGmailアカウントが必要です。すでにお持ちのGmailも利用可能ですが、個人情報漏洩防止の観点から参加専用のアカウントをご準備いただくことをおすすめします（システム上は、アカウントで設定した名前が表示され、アカウントそのものは表示されません）。

参加定員

先着100名程度（定員に達し次第〆切ります）

費用

申　込　資　格	受講料
日本表面真空学会個人正会員	15,000円
日本表面真空学会法人正会員	15,000円
日本表面真空学会維持会員	12,000円
日本表面真空学会賛助会員	15,000円
協賛学協会会員	17,000円
日本表面真空学会学生会員	1,000円
学生（非会員）	3,000円
その他	30,000円