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[ml] 第55回薄膜・表面物理基礎講座「表面・界面分析の原点回帰と進化」のご案内

[ml] 第55回薄膜・表面物理基礎講座「表面・界面分析の原点回帰と進化」のご案内

対象：会員および一般

速報発信者；武田さくら（奈良先端科学技術大学院大学）

＜日本表面真空学会協賛＞
第55回薄膜・表面物理
基礎講座「表面・界面分析の原点回帰と進化～最先端技術を正しく使いこなすための理論と実践～」のご案内

※学生参加費が無料＆最先端機器の見学会も同時開催！

テーマ：表面・界面分析の原点回帰と進化～最先端技術を正しく使いこなすための理論と実践～

表面分析で広く用いられる光電子分光やSIMS、SEMについて、基本原理をあらためて整理するとともに、最新の装置動向や測定・解析手法も体系的に学んでいただけるよう、黎明期から表面分析の発展に尽くされてきた著名な先生方を講師にお招きし、基礎講座を開催いたします。

閉会後には、最先端機器見学会や、講師の先生方を囲む懇親会も予定しており、講師の先生方と直接交流できる貴重な機会となっております。
また、所属学会に関わらず【学生は無料】で参加が可能ですので、ぜひお近くの学生さんにもお声がけください。
多くの皆様のご参加をお待ちしております。

日時：2026年11月12日（木）9:45～17:20
場所：(株)島津製作所 Shimadzu Tokyo Innovation Plaza（対面開催）
神奈川県川崎市川崎区殿町3丁目25-40（京急大師線小島新田駅より徒歩12分）
https://www.shimadzu.co.jp/research_and_development/tokyo-innovation-plaza/

プログラム：
「日本の表面分析技術の歩み－約60年にわたる技術開発－」
尾張真（東京大学名誉教授）

「高度化された表面・界面の構造解析における表面分析機器の役割」
橋本哲（JFEテクノ）

「硬X線光電子分光法HAXPESの実体と役割」
上田茂典（NIMS）

「低エネルギー逆光電子分光～何が分かるのか，原理・応用～」
吉田弘幸（千葉大学）

「大気圧光電子分光法の現状と応用」
松田巌（東京大学）

「二次イオン質量分析～技術はどこまで進んでいるか～」
二宮啓（山梨大学）

「先進的な走査電子顕微鏡の表面・界面評価における役割」
Dirk van der Wal（TESCAN GROUP）

「測定データの利活用に向けて－データ形式の標準化－」
一村信吾（AIST 特別顧問）

※16:45～17:20 (株)島津製作所 Tokyo Innovation Plaza 見学（希望者：定員48名、申込順）

参加費：
応用物理学会会員・協賛学協会会員：15,000円、学生：無料、
応用物理学会薄膜・表面物理分科会会員：10,000円、その他：25,000円

参加申込締切：2026年11月5日(木)

参加申込方法：
下記URLからイベントペイのサイトにアクセスし、参加登録してください。
https://eventpay.jp/event_info?shop_code=1804158131583761&EventCode=C824791558