日本表面真空学会 マイクロビームアナリシス技術部会

2026年3月3日（火）14:00～17:00

日本電子株式会社 東京事務所 18階会議室 およびオンライン
（〒100-0004 東京都千代田区大手町2-1-1 大成大手町ビル18階）

14:00-14:40　物質・材料研究機構　鈴木拓先生（招待講演）
　「低エネルギーイオンビームによる表面水素の分析」
14:40-15:20　法政大学　西村智朗先生（招待講演）
　「イオン散乱・注入シミュレーションプログラムの開発」
15:20-15:30　休憩
15:30-16:10　日本原子力研究開発機構　藤田奈津子先生（招待講演）
　「超小型加速器質量分析装置の開発の現状」
16:10-16:35　東レリサーチセンター　小北哲也先生（招待講演）
　「イオンビーム分析の産業応用動向と今後の展望」
16:35-17:00　日産化学　松尾美那先生（招待講演）
　「製品開発力を強化するTOF-SIMSによる局在解析技術」

MBA部会員：無料
日本表面真空学会個人正会員：無料
日本表面真空学会法人正会員、維持会員、賛助会員に属する方：無料
一般：5,000円
学生：無料

※日本表面真空学会法人正会員、維持会員、賛助会員の企業名はこちらをご確認ください。

こちらの申込フォームからお申し込みください。
※お申し込み完了後、受付完了メールが自動返信されます。
　受付完了メールが届かない場合は、office@jvss.jp へご連絡ください。

申込締切　2026年2月24日（火）

銀行振込
※申込受付完了後、請求書をメール添付にてお送りします。
※参加者の都合による取り消し及び不参加の場合、参加費の払い戻しはいたしません。
　ただし、参加者の変更は差し支えありません。

公益社団法人日本表面真空学会 事務局
E-mail: office@jvss.jp　　TEL 03-3812-0266
本件担当：孝橋照生（日立製作所）、堤 建一（日本電子）、二宮 啓（山梨大学）