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XPSスペクトルのスムージング処理 齋藤 健 Vol. 37, No. 4 (2016) p. 184
走査プローブ顕微鏡像の解析 —自己組織化膜の構造決定の際の留意点— 高見知秀 Vol. 31, No. 4 (2010) p. 208
STM-IETS測定の実際 米田忠弘,金 有洙,道祖尾恭之,重川秀実,川合真紀 Vol. 24, No. 5 (2003) p. 313
光電子スペクトロホログラフィー装置の開発 白木 將,石井秀司,二瓶好正 Vol. 22, No. 12 (2001) p. 827
極低温走査型トンネル顕微鏡 天草貴昭,近藤 康 Vol. 21, No. 10 (2000) p. 673
SIMSにおける試料冷却法 林 俊一 Vol. 21, No. 3 (2000) p. 177
APFIMにおける試料冷却法 宝野和博 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 114
光電子分光の試料冷却 横谷尚睦,木須孝幸,辛 埴 Vol. 20, No. 12 (1999) p. 890
金属単結晶表面上の物理吸着層研究のための試料冷却技術 五十嵐慎一,平山孝人,荒川一郎 Vol. 20, No. 9 (1999) p. 665
光高温計および放射温度計を用いたW細線温度の測定 下山 宏 Vol. 20, No. 3 (1999) p. 210
STMで用いる試料温度の測定 佐藤 智重 Vol. 20, No. 2 (1999) p. 131
赤外線加熱を用いた試料加熱法 丹羽正昭,井戸田健 Vol. 20, No. 1 (1999) p. 45
放射高温計と光高温計を用いた試料温度測定 鈴木 茂 Vol. 19, No. 12 (1998) p. 844
電子スピン計測のための電子衝撃加熱法 居島 薫,中村浩次,高桑真歩,鳥養映子,早川和延 Vol. 19, No. 11 (1998) p. 758
RHEED強度定量的測定のための試料加熱法 高桑真歩,居島 薫,中村浩次,鳥養映子,早川和延 Vol. 19, No. 10 (1998) p. 687
電子衝撃型試料加熱法 後藤敬典 Vol. 19, No. 9 (1998) p. 612
直接通電加熱法のノウハウと問題点 井藤浩志 Vol. 19, No. 6 (1998) p. 417
直接通電加熱による試料加熱法 一宮彪彦 Vol. 19, No. 5 (1998) p. 340
直流通電加熱によるSi(001)原子層平坦面の位置制御 安藤 淳,坂本邦博 Vol. 19, No. 4 (1998) p. 271
STMで用いる直接通電加熱 佐藤智重 Vol. 19, No. 3 (1998) p. 208
試料加熱方式について —傍熱型ヒーター— 佐藤智重 Vol. 19, No. 2 (1998) p. 129
走査電子顕微鏡のための試料加熱ホルダー 山本陽一 Vol. 19, No. 2 (1998) p. 128
超高真空走査型電気力顕微鏡 —高分解能電気物性情報を得るためのノウハウ— 井上貴仁 Vol. 18, No. 5 (1997) p. 319
走査型電気力顕微鏡 —高分解能電気物性情報を得るためのノウハウ— 井上貴仁 Vol. 18, No. 4 (1997) p. 247
超高真空極低温STM (2) —試作のノウハウ— 小森文夫,服部 賢 Vol. 18, No. 3 (1997) p. 185
超高真空極低温STM (1) —試作のノウハウ— 小森文夫,服部 賢 Vol. 18, No. 2 (1997) p. 116
近接場光学顕微鏡でどこまで高分解能像が得られるか? (2) 大津元一 Vol. 18, No. 1 (1997) p. 55
近接場光学顕微鏡でどこまで高分解能像が得られるか? (1) 大津元一 Vol. 17, No. 12 (1996) p. 771
大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? —試作と像解釈のノウハウ (3)— 森田清三,菅原康弘,大田昌弘 Vol. 17, No. 11 (1996) p. 698
大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? —試作と像解釈のノウハウ (2)— 森田清三,菅原康弘,大田昌弘 Vol. 17, No. 10 (1996) p. 617
大気および超高真空AFMで高分解能像を得るためには? —試作と像解釈のノウハウ (1)— 森田清三,菅原康弘,大田昌弘 Vol. 17, No. 9 (1996) p. 559
超高真空STMで安定な原子像を得るためには? —試作と実験のノウハウ (II)— 富取正彦 Vol. 17, No. 6 (1996) p. 352
超高真空STMで安定な原子像を得るためには? —試作と実験のノウハウ (I)— 富取正彦 Vol. 17, No. 5 (1996) p. 286