会誌「表面科学」

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 第37巻 第4号  2016年4月

Editor's Choice

CO(0.33mbar)とO2(0.33 mbar)混合ガス雰囲気中のPd(100)とRh(100)表面でのCO酸化反応の基板温度依存性


表面科学 第37巻 第4号 (2016) p. 173

特集テーマの関連論文

高分子材料のXPS深さ方向分析におけるC60イオンビーム入射角の影響
宮山 卓也, 井上 りさよ, 眞田 則明
Vol. 28 (2007) No. 9 p. 504

ラボ用硬X線光電子分光装置の開発
小畠 雅明, 岩井 秀夫, Igor Pis, 吉川 英樹, 田沼 繁夫, 田中 彰博, 鈴木 峰晴, 小林 啓介
Vol. 31 (2010) No. 9 p. 487

クラスターイオンビーム技術の最近の進展
松尾 二郎, 瀬木 利夫, 青木 学聡
Vol. 31 (2010) No. 11 p. 564

Application of Electrospray Droplet Impact (EDI) to Surface Science
Vol. 31 (2010) No. 11 p. 572

半導体産業における表面科学の役割
中村 誠
Vol. 32 (2011) No. 5 p. 246

鉄鋼産業における表面科学の役割
笹川 薫
Vol. 32 (2011) No. 5 p. 254

高エネルギー分解能AESによるSn,SnO,SnO2の化学状態定量分析
堤 建一, 田中 章泰, 島 政英, 田澤 豊彦
Vol. 33 (2012) No. 8 p. 431

有機物のナノスケール分析とマッピングを目的としたLaser-SNMS分析装置の開発 -ブレンドポリマー相分離構造の直接観察-
石川 丈晴, 柏木 隆宏, 坂本 哲夫, 三澤 健太郎, 藤井 正明, 蜂谷 正樹, 野田 浩之, 遠藤 克己
Vol. 35 (2014) No. 7 p. 383

電子分光スペクトルの逆問題解法を目指して
吉川 英樹, 田沼 繁夫
Vol. 36 (2015) No. 10 p. 521

雰囲気制御型硬X線光電子分光による固体燃料電池電極のその場観察
高木 康多
Vol. 37 (2016) No. 1 p. 14

Contents


■ 巻頭言

表面分析の実際の現場では

田沼 繁夫
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 149


■ 特集:実用表面分析の最前線

(研究紹介)
実験室系硬X線光電子分光

山瑞 拡路,井上りさよ,眞田 則明,渡邉 勝己
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 150



(研究紹介)
オージェ電子分光法の最近の活用事例―絶縁物分析と化学状態分析―

堤 建一,田中 章泰,島 政英,小野寺 浩
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 156



(研究紹介)
TOF-SIMSの同定能力を向上させるための新しい質量軸較正法

小林 大介
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 162



(研究紹介)
Nano-SIMSの最近の話題

石川 丈晴,坂本 哲夫
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 167



(研究紹介)
雰囲気光電子分光の現状と展望

町田 雅武,野副 尚一,Bjorn AHMAN,大岩 烈
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 173



(研究紹介)
クラスターイオンの使い道(SIMS & XPS)

二宮 啓
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 178



(実験ノウハウ)
XPSスペクトルのスムージング処理

齋藤 健
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 184


■ 連載企画

(安全な社会と表面科学④)
交通事故の防止と被害軽減のための交通事故統計分析

西田 泰
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 187


■ 談話室

(海外研究体験記)
イタリア,フランス,スペインにおける15年に渡る研究生活

畑田 圭介
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 190


■ 表面科学技術者資格認定試験例題

表面科学技術者資格認定試験例題 No. 31


■ 先端追跡

[R-581] グラファイト/グラフェン表面上の水の濡れ性
中村 淳
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 193

[R-582] もののインターネット社会
中村 誠
Vol. 37, No. 4 (2016) p. 193


■ FOCUS on e-JSSNT
e-JSSNT最新論文 No. 138

■ 編集後記

 2今回の特集のテーマは,実用かつ最前線の表面分析です。最前線は未知に挑みつつある領域であり,実用は既存知識を実試料に適用する領域であると見做すと,実用かつ最前線とは,実試料の表面分析において未知に挑みつつある領域ということになるのだろうか。いずれにせよ,集まった原稿は表面分析の最前線というにふさわしいものになっていると思う。著者および査読者に敬意を表したい。 
(笹川 薫)

 XPS,AES,SIMSは表面分析手法としてすでに半世紀に亘り使われてきたが,さらなる高感度化,微小化ならびに大深度化,低真空下測定,詳細な化学状態分析などを目指して進歩している。その研究開発と標準化において,日本の果たしてきた役割は小さくない。今回の特集により,その一端をご紹介できたとすれば幸いです。本特集にご尽力いただきました著者と査読の先生方に感謝致します。 
(眞田則明)

 表面分析は,本学会の最も基礎的な分野ですが意外と特集号が組まれていません。本号を読めば表面分析の最新の話題が理解していただけるよう,今回の特集を企画いたしました。本号は毎日表面分析装置に接し,次代の表面分析界を担っていただける研究者に執筆をお願いし,何人かのレジェンドの先生に閲読をしていただきました。会員の皆様に有用な情報が発信できていれば幸いです。  
(中村 誠)


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