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ナノ集光した軟X線を用いた走査型光電子顕微鏡のオペランド観察の様子。デバイス動作環境下での電子状態をナノ空間で調べることができます。
| 表面科学 第37巻 第1号 (2016) p. 25 |
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■ 新年のご挨拶
踏み出す
荻野 俊郎
Vol. 37, No. 1 (2016) p. 1
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■ 巻頭言
■ 特集：光電子分光の新展開
■ 連載企画
■ 談話室
■ 表面科学技術者資格認定試験例題
■ 先端追跡
■ FOCUS on e-JSSNT
■ 編集後記
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光電子分光は放射光などの光源の開発，エネルギーアナライザーの高分解能化や2次元ディテクターの汎用化により，表面のみならず固体科学全般にとって不可欠な研究手段となってきました。今回はその光電子分光のさらなる展開について，この分野をリードする気鋭の若手研究者の方々にご執筆頂きました。働き盛りのお忙しい中，快く本特集号の記事執筆をお引き受け下さった先生方に心より御礼申し上げます。 （平山博之）
光電子分光は表面分析には今や欠かすことのできない測定法であり，その技術も日々進化しています。そこで日本表面科学会関東支部では第1回関東支部セミナー「光電子分光のフロンティア〜スピン・時空間分解から電池・触媒開発のオペランド観測〜」を2015年5月22日に開催しました。約130名もご参加いただき，また内容も大変に好評をいただきました。そこで本特集では，その講師の先生方にご寄稿いただきました。表面科学の読者への有益な情報となれば幸いです。最後に本特集号の原稿執筆もご快諾いただいた先生方に厚くお礼を申し上げます。 （松田 巌）
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