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高温でのEBSD測定によって得られた逆極点マップ像
| 表面科学 第36巻 第4号 (2015) p. 158 |
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■ 巻頭言
■ 特集：走査電子顕微鏡法による最新技術
■ 連載企画
■ 談話室
■ 支部だより
■ 表面科学技術者資格認定試験例題
■ 先端追跡
■ FOCUS on e-JSSNT
■ 編集後記
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SEMは分析する者にとって不可欠の装置です。学生の頃は有機半導体薄膜の形状観察や組成分析などに使っていましたが，現在のような低加速かつ高分解能の装置があればもっと良い結果が得られたのではないかと思います。今回の特集で最新の情報に接し，あらためてその進歩や変化に驚かされました。最後になりましたが，お忙しい中ご執筆いただいた先生方に深く感謝いたします。
（笹川薫）
走査電子顕微鏡の最新技術をユーザー視点で特集しました。電子線を走査して像を得るというSEMの原型は1935年にドイツのKnollによって作られましたが，実際の商品化は1965年とされています。（http://www.jeol.co.jp/words/semterms/a-z_13.pdf）それから50年，ユーザーのニーズによって現在のSEMへと進化しました。今後も未知な物質の形状や物性の理解に貢献していくことでしょう。この場を借りて執筆者の皆様に厚く御礼を申し上げます。
（佐藤智重）
門外漢の私が，走査顕微鏡の特集号の編集担当になってしまい不安でしたが，周りの皆様にご迷惑をかけながらもなんとか一仕事終わり安心しています。最近は日常の業務をこなす事が最優先になり，なかなか知らない分野の文献に目を通す機会がないのですが，編集担当として，何本かの記事を読ませて頂き，いろいろと自分なりに新しい発見があったのも楽しい経験でした。
（南部英）
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