|
交換磁気異方性薄膜の
パルス強磁場軟X線MCD測定
| 表面科学 第35巻 第3号 (2014) p. 158 |
硬X線励起光電子顕微鏡
小野 寛太, 谷内 敏之, 尾嶋 正治, 脇田 高徳, 小嗣 真人, 鈴木 基寛, 河村 直己, 高垣 昌史, 秋永 広幸
Vol. 28 (2007) No. 12 p. 704
|
| |
■ 巻頭言
進化するXAFS
太田俊明
Vol. 35, No. 3 (2014) p. 127
|
|
■ 特集：X線吸収分光法の最前線
■ 連載企画
■ 談話室
■ 表面科学技術者資格認定試験例題
■ 先端追跡
■ FOCUS on e-JSSNT
■ 編集後記
|
X線吸収分光法（XAFS）は構造解析の一手法としての地位を確立していますが，X線回折法に比べるとまだユーザーが限られているように思えます。本号の特集をご覧いただければ，XAFSの応用性の高さがわかるかと思います。読者の方々には，ご自身の研究にXAFSが使えるのではないかと少しでも思っていただければ幸いです。最後に，お忙しい中，編集担当からの細かいお願いにも快くご対応いただきました執筆者ならびに査読していただいた諸先生に厚く御礼申し上げます。
（一國伸之）
今号の特集は「X線吸収分光法の最前線」です。X線吸収分光法は，スペクトロスコピーとしては成熟した手法といって良いと思いますが，最近になって可能になったこと，また，もうすぐ可能になりそうなことも多くあります。新しい発展の全部をカバーできているわけではありませんが，将来展望も含め，できるだけ最新の状況の概観が得られるように企画しました。読者の皆様に有益な特集になっていれば幸いです。最後になりましたが，この場を借りまして，お忙しい中，記事の執筆をいただきました先生がたに深く感謝申し上げます。
（小西健久）
|
|
