会誌「表面科学」

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 第34巻 第11号  2013年11月

Editor's Choice

三次元走査型光電子顕微鏡の概略図

表面科学 第34巻 第11号 (2013) p. 568

特集テーマの関連論文

近接場光学顕微鏡の基本性能とその応用分野
斎木 敏治
Vol. 5, (1999) No. 5 p. 344

走査型プローブ顕微鏡の磁性半導体及び超巨大磁気抵抗材料への適用
福村 知昭, 長谷川 哲也
Vol. 23, (2002) No. 4 p. 233

光電子顕微鏡を用いたナノ構造磁性体の磁区構造観察
小野 寛太, 木下 豊彦, 尾嶋 正治
Vol. 23, (2002) No. 5 p. 300

電極表面の非線形現象
中林 誠一郎, 宮北 康之, Antonis KARANTONIS
Vol. 25, (2004) No. 2 p. 104

近接場顕微分光イメージングによる貴金属微粒子のプラズモンモードの研究
井村 考平, 岡本 裕巳
Vol. 29, (2008) No. 6 p.336

光STMおよびSTMフーリエ変換ナノスペクトロスコピー
目良 裕, 成瀬 延康, 前田 康二
Vol. 32, (2011) No. 12 p.779

白色レーザーを用いた生細胞イメージング
加納 英明, 奥野 将成, 浜口 宏夫
Vol. 32, (2011) No. 12 p. 792

単一ナノ分子・磁気抵抗素子―スピン偏極STMによる単一分子電子スピン伝導測定―
山田豊和
Vol. 34, (2013) No. 8 p. 443

Contents


■ 巻頭言

表面・界面の理解のために表面分析に求められるもの

福井賢一
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 567


■ 特集:顕微計測の最前線

(研究紹介)
三次元走査型光電子顕微鏡(3D nano-ESCA)

堀場弘司,尾嶋正治
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 568



(研究紹介)
高分解能・高感度X線タイコグラフィー

高橋幸生
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 574



(研究紹介)
先端増強近接場分光法

早澤紀彦
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 580



(研究紹介)
絶縁性試料の光電子顕微鏡(PEEM)観測

大河内拓雄
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 586



(研究紹介)
蛍光X線ホログラフィー:回折実験による構造解析の矛盾とその解決

細川伸也,八方直久,林好一
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 592



(研究紹介)
ポンプ-プローブ単結晶X線構造解析を用いた光励起分子の三次元構造観察

星野学
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 598


■ 連載企画

(エネルギー問題と表面科学J)
これからの省エネルギー

判治洋一
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 604


■ 談話室

(海外研究体験記)
ドイツポスドク体験記

村上勝久
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 608


■ 表面科学技術者資格認定試験例題

表面科学技術者資格認定試験例題 No. 3


■ 先端追跡

[R-523] ポストグラフェン材料としての二硫化モリブデン
久保利隆
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 611

[R-524] Bayes-Turchin EXAFSデータ解析
小西健久
Vol. 34, No. 11 (2013) p. 611


■ FOCUS on e-JSSNT
e-JSSNT最新論文 No. 112

■ 編集後記

 ナノスケールの局所的な化学結合状態・電子状態を分析できる強力な手法が,様々な波長の光や電子線を用いた顕微分光法です。放射光やレーザー光技術の向上とともに,顕微分光法も日進月歩の発展を続けています。本特集号では,最先端の顕微分光法をご研究の先生方にご執筆いただきました。執筆をご快諾いただきました先生方に改めて深く感謝申し上げます。 
(近松 彰)

 “The true mystery of the world is the visible, not the invisible.”―from The Picture of Dorian Gray by Oscar Wilde ということで,後記に代えたいと思います。最後になりますが,お忙しい中,ご執筆をいただきました先生方に,この場を借りて,改めまして,あつく御礼申し上げます。 
(小西健久)

 最先端の解析技術を適切なタイミングで商品として世に送り出すのが分析装置メーカーの責務と考えておりますが,レベルの高いユーザーと研究者によって,日本の分析装置メーカーが支えられていることを改めて感じました。顕微分析では高い分解能とともに高い感度での計測が必要です。高い感度と精細を兼ね備えたアンテナを常に張り続けている読者の皆様に応えられるような情報を,今後もご提供できれば幸いです。 
(眞田則明)


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