[前号 (Vol. 23, No. 5)] [次号 (Vol. 23, No. 7)] [会誌 総目次]
XAFSの拡がり 岩澤康裕 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 331
(研究紹介) 偏光全反射蛍光XAFSを用いた金属−酸化物基板界面構造の研究 朝倉清高，岩澤康裕 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 332
(研究紹介) 時間分解XAFSを用いた触媒調整過程の研究 紫藤貴文，山口有朋，鈴木あかね，稲田康宏，朝倉清高，野村昌治，岩澤康裕 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 339
(研究紹介) 軟X線エネルギー分散型表面XAFS法による表面化学反応の時分割追跡 雨宮健太，近藤 寛，太田俊明 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 345
(研究紹介) XAFSによる自己組織化膜の研究 近藤 寛 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 351
(研究紹介) XAFSによる高分子材料表面の解析 岡島敏浩 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 359
(研究紹介) XAFS測定の半導体への応用 大渕博宣，田渕雅夫，竹田美和 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 367
(研究紹介) SCM-XAFS法による半導体表面顕微分光 石井真史 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 374
(研究紹介) 透過電子エネルギー損失分光における内殻励起スペクトルを利用した軽元素材料の局所領域構造解析 武藤俊介，田辺哲朗 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 381
無機化合物のGa+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターン推定への同位体存在比導入の試み 李 展平，広川吉之助 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 389
[R-269] タングステンの仕事関数制御 安達 洋 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 395
[R-270] 発光X線微細構造（EXEFS） 赤井俊雄 Vol. 23, No. 6 (2002) p. 395
