[前号 (Vol. 21, No. 1)] [次号 (Vol. 21, No. 3)] [会誌 総目次]
新機能の宝庫・酸化物 鯉沼秀臣 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 61
(解説) 理論から見た複酸化物表面の現状と今後 寺倉清之,方 忠 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 62
金属酸化物超平坦表面のナノ構造評価と応用 吉本 護,大西 剛,高倉雅博,菱谷佳子,古澤光康,水野敬介,宮原崇文 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 71
分子シミュレーションによる複酸化物の表面・界面 久保百司,高見誠一,宮本 明 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 81
光電子分光で見た銅酸化物超伝導体(Nd, Ce)2CuO4の表面・界面 —銅酸化物表面/界面での酸化還元反応と酸素ノンストイキオメトリー— 山本秀樹,内藤方夫,佐藤寿志 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 89
原子間力顕微鏡による銅酸化物超伝導体単結晶の表面観察 座間秀昭,田中延枝,森下忠隆 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 97
Ni(111)面上に吸着した硫黄の拡散係数の測定 塚脇 聡,波多野雄治,橋爪健一,杉崎昌和 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 102
InGaAs量子ドットのSPEED法による作製とその光学特性 間野高明,渡邉克之,塚本史郎,今中康貴,高増 正,藤岡 洋,木戸義勇,尾嶋正治,小口信行 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 107
APFIMにおける試料冷却法 宝野和博 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 114
第20回表面科学セミナー—表面分析による材料評価の実際— 吉原一紘 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 118
[R-222] EPMAを用いた化学状態別分布の評価 橋本 哲 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 119
[R-223] 原子レベルで達成された,STMチップを用いた表面のフォトンマッピング 笹原 亮 Vol. 21, No. 2 (2000) p. 119