会誌「表面科学」

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 第20巻 第1号  1999年1月


■ 巻頭言

離合集散 (image PDF 71K)
野副尚一
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 1


■ 特集:化合物半導体積層構造の成長と評価

(解説)
GaInPの秩序構造形成に及ぼすステップバンチングの影響

五明明子,堀田 等,宮坂文人,深谷一夫,日野 功,小林健一
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 2



(研究紹介)
ケルビンプローブ顕微鏡を用いたGaAs HEMT断面・ヘテロ構造の電位分布測定

水谷 孝
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 9



(研究紹介)
スパッタリング法による化合物半導体積層構造の評価

田沼繁夫
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 14



(研究紹介)
表面光吸収法を用いたステップフリー表面・界面の形成

西田敏夫,小林直樹
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 20


■ 論文

走査型キャパシタンス顕微鏡による微小領域の半導体不純物分布測定

峯尾江利子,久保真紀,中沢正敏,杉本有俊
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 27



アルカンチオール自己組織化単分子膜のナノ構造

小川英之,高村 巧,下山雄平
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 33


■ 解説

LEEM用エネルギーフィルタの開発

嘉藤 誠,境 悠治
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 38


■ 実験ノウハウ

赤外線加熱を用いた試料加熱法

丹羽正昭,井戸田健
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 45


■ 談話室

Practical Surface Analysis-98 (PSA98)  (image PDF 86K)
吉原一紘
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 47


■ 先端追跡

[R-196] 放射光を利用したトライボロジーの研究
福島 整
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 48

[R-197] 非接触オードの原子間力顕微鏡による化学結合力のイメージング
松本卓也
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 48

[R-198] Step and Terrace構造を持つ金属酸化物基板表面
山本秀樹
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 49

[R-199] Pt(100)表面上のNO+H2振動反応の「種も仕掛けもない」新しい計算モデル
元廣友美
Vol. 20, No. 1 (1999) p. 49


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