会誌「表面科学」

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 第16巻 第4号  1995年4月


■ 巻頭言

サイエンスとテクノロジーの協同のための一提案 (image PDF 439K)
大泊 巖
Vol. 16, No. 4 (1995) p. 223


■ 小特集:高融点金属シリサイドに関する最近の話題

(解説)
金属シリサイド技術の現状と課題

須黒恭一、國島 巌
Vol. 16, No. 4 (1995) p. 224



(解説)
チタン・シリサイドプロセスにおける構造相転移の問題について

松原義久,堀内忠彦,奥村孝一郎
Vol. 16, No. 4 (1995) p. 233



(解説)
高融点金属/Si界面での固相非晶質化反応

小川真一
Vol. 16, No. 4 (1995) p. 238



(解説)
シリサイド化反応とコンタクト特性

財満鎭明,安田幸夫
Vol. 16, No. 4 (1995) p. 244


■ 解説

X線光電子分光法を用いた半導体のバンドギャップ内の界面準位の新しい観測方法

小林 光
Vol. 16, No. 4 (1995) p. 251


■ 論文

マイクロ・スパッタリングによるダイヤモンド薄膜の平坦化加工

船本宏幸,杉田利男,野口光一
Vol. 16, No. 4 (1995) p. 258


■ ノート

BaTiO3セラミックスの分極の活性化エネルギーに及ぼすMn添加の効果

松井岳巳
Vol. 16, No. 4 (1995) p. 265


■ ポピュラーサイエンス

砂の表面のパターン動力学

西森 拓
Vol. 16, No. 4 (1995) p. 267


■ 先端追跡

[R-80] MCM-41とFSM-16
元廣友美
Vol. 16, No. 4 (1995) p. 273


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