会誌「表面科学」

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 第16巻 第2号  1995年2月


■ 巻頭言

息の長い研究 (image PDF 67K)
石原 宏
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 101


■ 小特集:STMで見るシリコン上固相エピタキシー

(解説)
STMでみる固相エピタキシープロセス

八百隆文
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 102



(解説)
走査トンネル顕微鏡によるシリコン固相エピタキシー過程の観察

植杉克弘,小村琢治,吉村雅満,八百隆文
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 105



(解説)
Si(111)表面でのGe固相エピタキシーのSTM観察

日比野浩樹,荻野俊郎
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 113



(解説)
Si(001)上の Ti 初期成長と反応

石山謙吾,多賀康訓,一宮彪彦
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 121


■ 解説

アト厶プローブの最近の動向と磁性薄膜の微細組織解析への応用

宝野和博,桜井利夫
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 127


■ 論文

SIMS-ESDMS複合技法によるバックグランドピークの干渉のない最表面分析

関 節子,住谷弘幸,田村一二三
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 135



STMによるSi(111)へのAlCl3分子の吸着プロセスの観察と反応表面での原子・分子操作

滝口隆晴,植杉克弘,吉村雅満,八百隆文
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 141



気−液界面におけるポリジアセチレン誘導体単分子膜の直接観察と大面積2次元結晶の配向制御

山田 進,下山雄平
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 147


■ ポピュラーサイエンス

工場における表面分析の実際

小島純夫
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 154


■ 先端追跡

[R-72] ファセット発生を抑止したシリコンの選択エピタキシー
沼沢陽一郎
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 158

[R-73] 液相析出法による硫化カドミウム膜の作製
大谷文章
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 158

[R-74] 水晶振動子を利用した固体電極表面エネルギー変化の測定
瀬尾眞浩
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 159

[R-75] 高誘電率酸化物薄膜の誘電特性
菱田俊一
Vol. 16, No. 2 (1995) p. 159


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