[前号 (Vol. 14, No. 10)] [次号 (Vol. 15, No. 2)] [会誌 総目次]
表面分析における基礎研究 (image PDF 61K) 合志陽一 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 1
(解説) EELFS(電子エネルギー損失微細構造)—固体表面における新しい局所構造解析 宇佐美誠二,藤川高志 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 2
(解説) その場観察偏光全反射蛍光EXAFS法による表面の非対称・異方性構造解析 白井誠之,岩澤康裕 Vol. 15, No. 1 (1994) p.9
(解説) マイクロプローブESCA 伊藤秋男 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 16
(解説) DV-Xα分子軌道法による銅XPSスペクトルの解析 河合 潤,足立裕彦 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 23
(解説) レーザープラズマパルス軟X線を用いた光電子分光法 青木貞雄 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 30
(解説) XPS化学修飾法による材料表面官能基の解析 白水正樹,堀 良万 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 34
(解説) エッチングも角度分解測定も使わない電子分光による深さ方向データ解析 田中彰博 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 40
(用語解説 52) 本特集のための用語解説 (image PDF 199K) 田中彰博 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 46
磁石内蔵型マイクロ・スパッタリング装置—設計と薄膜形成・エッチング特性— 渡部一史,杉田利男 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 48
第7回走査トンネル顕微鏡国際会議 (STM '93) (image PDF 81K) 長谷川幸雄 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 54
[R-43] DEMSによる単結晶電極上の電解還元反応の解析 吉武英昭 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 55
[R-44] 表面増強赤外吸収を用いたin-situ表面解析 徳田 一 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 55
[R-45] 無視できなくなってきた電子の衝突過程での弾性散乱 田中彰博 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 56
[R-46] 固体中電子の非弾性平均自由行程の運動エネルギー依存性は1/2乗ではなく3/4乗 田中彰博 Vol. 15, No. 1 (1994) p. 56