会誌「表面科学」

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 第14巻 第8号  1993年10月


■ 巻頭言

表面科学会の活動について (image PDF 62K)
河津 璋
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 451


■ 有機薄膜の作製・成長に関する小特集

(解説)
有機薄膜のエピタキシャル成長指針

多田博一,小間 篤
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 452



(解説)
有機STMと有機MBE

原 正彦
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 461



(解説)
有機MBE法によるC60薄膜の作製と物性

谷垣勝己
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 467



(解説)
In-situ赤外分光法による有機薄膜成長の評価

中山俊夫
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 475


■ 解説

走査トンネル顕微鏡・分光による表面ステップ近傍での定在波の観察

長谷川幸雄,Phaedon AVOURIS
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 481



電荷移動によらない低次元炭素系の物性

長島礼人,大島忠平
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 486


■ 論文

酸素イオンビームを用いたSIMS分析でのトランジェント領域の図上解析

富塚 仁,星 孝弘,田中彰博,菖蒲明己
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 493



SIMSにおける被覆法によるメモリー効果の回避

住谷弘幸,池辺義紀,田村一二三,関 節子
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 500


■ ノート

六方晶系グラファイト表面原子構造のSTM観察

村上健司,野村卓志,矢後栄郎,石川賢司,萩野 實,山口 豪,佐々木彰
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 506


■ 談話室

さきがけ研究21 (image PDF 181K)
田中廣光
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 509



第15回表面科学基礎講座
—表面・界面分析の基礎と応用— (image PDF 71K)

太田英二
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 511


■ 先端追跡

[R-33] スピルオーバー
元廣友美
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 512

[R-34] 原子レベルの構造と電気特性—金属/半導体界面の場合—
長谷川修司
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 512

[R-35] フラーレンのSTM
重川秀実,三宅晃司,相磯良明
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 513

[R-36] ゼオライトの塩基サイトは均質か
岡本康昭
Vol. 14, No. 8 (1993) p. 513


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