会誌「表面科学」

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 第12巻 第6号  1991年8月


■ 巻頭言

表面分析って何だろう (image PDF 65K)
副島啓義
Vol. 12, No. 6 (1991) p. 347


■ 解説

界面科学からみたトライボロジー

広中清一郎
Vol. 12, No. 6 (1991) p. 348



SIMSとSAMによる粒界の研究

羽田 肇,田中順三
Vol. 12, No. 6 (1991) p. 353



表面化学吸着種の固体(高分解能)NMRによるキャラクタリゼーション
—Moカルボニル吸着種の解析—


篠田純雄,山川 哲
Vol. 12, No. 6 (1991) p. 359



表面分析用荷電粒子検出システ厶

一村信吾,後藤敬典
Vol. 12, No. 6 (1991) p. 367



有機超薄膜の赤外反射吸収スペクトル

竹中 亨
Vol. 12, No. 6 (1991) p. 375


■ 論文

超音波 — 超純水洗浄法による低欠陥・清浄GaAs表面の形成

廣田幸弘,本間芳和,杉井清昌,峰岸延枝
Vol. 12, No. 6 (1991) p. 380



UV光を用いたN2O中での Si の低温熱酸化

石川 豊,内原 士,中道一郎
Vol. 12, No. 6 (1991) p. 393


■ ポピュラーサイエンス

エナメル質の表面構造:虫歯は歯の表面から

脇田 稔
Vol. 12, No. 6 (1991) p. 399


■ 談話室

The 7th Oxford Conference on Microscopy of Semiconducting Materials (image PDF 128K)
Anthony HOBBS
Vol. 12, No. 6 (1991) p. 405


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