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マイクロビームアナリシス研修セミナー
研修セミナー 各種資料

受講者募集

本セミナーは、電子顕微鏡や質量分析装置など各種材料分析装置の原理や特性を基礎から理解し、分析結果を正しく解釈するスキルを身に着けていただくことを主たる目的としています。 また、最新の分析技術動向や高度な分析事例を勉強していただく場でもあります。 想定している受講者は企業や大学の若手研究者、若手技術者、大学院学生ですが、組織や産学の壁を越えた人材交流を通じて材料分析分野のコミュニティーを形成することも目的としておりますので、若手に限らず幅広い年齢層の方々にご参加いただけます。

本セミナーの特徴は、通常の座学に加えて、講師・参加者全員が互いに議論を深め合う総合ディスカッションを行うことにあります。 総合ディスカッションでは、講義内容の範疇にとどまらず、日頃の業務や研究の中での疑問点、解決に困っている課題などを講師の皆さまや他の参加者と共に討論することで、より実践的・具体的な知識を身につけていただくとともに、装置開発者側、装置利用者側の双方にとって有益な情報交換の場となることを目的としています。 また、総合ディスカッションを効果的に活用して積極的に議論に参加していただくため、参加者の皆様には事前質問を提出していただくこととなっております。

2025年度は「ミクロ領域の観察・分析が可能な走査電子顕微鏡法とその周辺技術」と題して、下記のプログラムで開催いたします。 多くの皆様のご参加をお待ちしております。

最新プログラム (2025年度)

  • 開催テーマ:ミクロ領域の観察・分析が可能な走査電子顕微鏡法とその周辺技術
  • 開催日:2025年4月24日(木)〜25日(金)
  • 開催場所:島津製作所 Shimadzu Tokyo Innovation Plaza(神奈川県川崎市川崎区殿町3丁目25-40)
  • 主催:日本表面真空学会 マイクロビームアナリシス技術部会
  • セミナー受講料:受講料一覧参照
    ※ 今回は対面開催のためA表が適応されます。
  • テキスト代:受講料に含まれます。
    ※ 受講はせずにテキストのみの購入も可能です(1部 8,000円)。
  • 技術交流会(名刺交換会):無料
  • 参加申込期間:2025年2月中旬〜2025年3月21日(金)
  • 定員:現地参加/30名程度
    ※ 原則先着順ですのでお早めにお申し込みください。
  • プログラム(敬称略):
    4月24日(木)
    12:50-13:00  開会の辞
    13:00-14:00 「SEMとその応用技術の概要」 本間芳和 (東京理科大学)
    14:00-15:00 「二次電子放出の基礎」 永富隆清 (旭化成株式会社)
    15:00-15:50 休憩、実験装置見学(最大36名程度)
    15:50-16:50 「EPMAの基礎と応用」 小野卓男 (株式会社島津製作所)
    16:50-17:30 「EPMAの定量分析と最新のアプリケーション」 脇元理恵 (日本電子株式会社)
    17:30-19:30 技術交流会(名刺交換会):参加費無料
    4月25日(金)
    9:00-9:40 「EBSDの原理と応用」 鈴木清一 (株式会社TSLソリューションズ)
    9:40-10:20 「電子線を使った発光分光分析技術」 秋山久 (株式会社堀場製作所)
    10:20-10:40 休憩
    10:40-11:20 「FIB-SEMの基礎と応用」 仲野靖孝 (株式会社日立ハイテク)
    11:20-12:00 「SEM-EDX及びEPMAを駆使した材料評価」 堤田秋洋 (株式会社東レリサーチセンター)
    12:00-13:00 昼休憩
    13:00-17:00  総合ディスカッション(ショートプレゼンテーションを含む)
    17:00-17:10  閉会の辞
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