日本表面真空学会関東支部

実用顕微評価技術セミナー2022

電子顕微鏡の最前線と表面分析技術の革新

主催:  公益社団法人 日本表面真空学会 関東支部

日時: 2022年7月28日(木曜日)13:00ー17:00

 7月29日(金曜日)10:00ー15:00

開催形式: オンライン (Webex)

参加料: 無料

参加登録:以下より参加登録をお願いいたします。

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研究会趣旨: 本セミナーは、ナノ材料・デバイスの評価技術として重要な新しい顕微評価技術の展開と促進を図り、これを通じて産業界に貢献することを目的として毎年開催してきました。今回は「電子顕微鏡の最前線と表面分析技術の革新」をテーマとし、特別講演者として電子顕微鏡技術のフロンティアでご活躍の柴田直哉先生(東京大学)と、我が国の表面分析技術を牽引する藤田大介先生(物質材料研究機構)をお招きします。また今回のテーマ「電子顕微鏡の最前線と表面分析技術の革新」に合わせて、フロンティアでご活躍の先生や実際に電子顕微鏡を開発されている技術者からの招待講演を計画しています。COVID-19の状況を考慮し、オンラインでの開催となりますが、遠方からのご参加も可能です。

 

特別講演

柴田直哉先生 (東京大学)

原子分解能磁場フリー電子顕微鏡の開発と原子磁場観察

 

藤田大介先生 (物質材料研究機構)

オペランド表面ナノプローブ計測の開発と応用

 

招待講演

小嗣真人先生(東京理科大学)

「拡張型自由エネルギーモデルによる物質機能のナノ構造の双方向接続」

 

勝部大樹先生(理研

「金属酸化物表面の高分解能AFM計測」

 

土師将裕先生(東京大学)

「電子スピン共鳴走査トンネル顕微鏡による原子スピン操作」

 

荒河一渡先生(島根大学)

「原子分解能磁場フリー電子顕微鏡MARSの汎用化へ向けた展開:島根大学次世代たたら協創センターにおける金属材料研究の取り組みの紹介」

 

五十嵐啓介様(日立ハイテク)

Fe酸化物粒子の水素還元反応その場ESTEM/SEM観察」

 

水野議覚様(日本電子)

「クライオ電子顕微鏡法のためのクライオFIB技術の発展と今後」

 

プログラム

7/28 () 13:00 - 17:10

特別講演

13:00 - 14:00

  藤田大介 (NIMS)  

オペランド表面ナノプローブ計測の開発と応用

企業ショートプレゼンテーション

14:00 - 14:10

  ユニソク  

超高真空装置の優位性を生かした装置開発

14:10 - 14:20

  シエンタオミクロン  

超高真空SPM関連技術の発展と弊社製品の紹介

14:20 - 14:30

  オックスフォード・インストゥルメンツ  

高速AFMによるIn-situ測定/その場観察

14:30 - 14:40

  ブルカージャパン  

原子間力顕微鏡を用いたリチウムイオン二次電池のナノスケール電気特性評価と解析

14:40 - 14:50

  パーク・システムズ・ジャパン  

原子間力顕微鏡(AFM)によるAM KPFMSideband KPFMの比較とその応用

14:50 - 15:00

  NanoAndMoreジャパン  

光熱励振で使用するカンチレバーの選定

15:00 - 15:10

  東京インスツルメンツ  

SPECS Momentum Microscopy, next generation ARPES (English)

招待講演

15:30 - 16:10

  小嗣真人 (東京理科大)  

拡張型自由エネルギーモデルによる物質機能のナノ構造の双方向接続

16:10 - 16:30

  勝部大樹 (理研)  

金属酸化物表面の高分解能AFM計測

16:30 - 16:50

  土師将裕 (東大)  

電子スピン共鳴走査トンネル顕微鏡による原子スピン操作

 

7/29 () 10:00 - 14:20

特別講演

10:00 - 11:00

  柴田直哉 (東大)  

原子分解能磁場フリー電子顕微鏡の開発と原子磁場観察

企業ショートプレゼンテーション

11:00 - 11:10

  アメテック  

高S/N、高歩留まり、高領域分析を達成した最新型3次元アトムプローブ装置 6000シリーズの紹介

11:10 - 11:20

  トヤマ  

モーメンタム・マイクロスコープとマイクロビーム・クラスターSIMSの現状

11:20 - 11:30

  日本エフイー・アイ  

全自動FIBによる、収差補正STEM用の高品質試料の作製

11:30 - 11:40

  日本電子  

OBF-STEM 法による低ドーズ高コントラスト原子分解能イメージング

11:40 - 11:50

  日立ハイテク  

日立新FE-SEMSU8600/8700のご紹介 -大量データ解析に向けた新機能-

11:50 - 12:00

  東陽テクニカ  

姿勢制御技術を用いたFIB SEM による TEM 試料作製

招待講演

13:00 - 13:40

  荒河一渡 (島根大)  

原子分解能磁場フリー電子顕微鏡MARSの汎用化へ向けた展開:
島根大学次世代たたら協創センターにおける金属材料研究の取り組みの紹介

13:40 - 14:00

  五十嵐啓介 (日立ハイテク)  

Fe酸化物粒子の水素還元反応その場ESTEM/SEM観察

14:00 - 14:20

  水野議覚 (JEOL)  

クライオ電子顕微鏡法のためのクライオFIB技術の発展と今後